| 000 | 01500cam^a2200409Ki^4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | UDM01000105656 | ||
| 003 | UDM | ||
| 005 | 20210806174550.0 | ||
| 006 | a||||go||d| 00| 0 | ||
| 007 | cr |||anaa| | ||
| 008 | 060223s2003^^^^mx^a^^^^^m^^^^000^0^spa^d | ||
| 040 | _cUN@ | ||
| 082 | 0 | 4 |
_a040.62 _bV136a 2003 |
| 100 | 1 |
_9289765 _aValadez Turrubiartes, Rene, _eautor |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aAumento del Trughput Yield en la línea de producción Elco / _cRene Valadez Turrubiartes, Miguel Urdiales Ibarra, Daniel Ramos García. |
| 264 | 3 | 1 |
_aSan Pedro Garza García, N.L. : _b[Editor no identificado], _c2003. |
| 300 |
_a146 hojas : _bilustraciones, tablas. |
||
| 300 | _a1 recurso en línea | ||
| 336 |
_atexto _btxt _2rdacontent |
||
| 337 |
_ano mediado _bn _2rdamedia |
||
| 337 |
_acomputadora _bc |
||
| 338 |
_avolumen _bnc _2rdacarrier |
||
| 338 |
_arecurso en línea _bcr |
||
| 502 | _aTesis (Ing. Industrial y de Sistemas)--UDEM. | ||
| 610 | 2 | 4 |
_9147035 _aELCOTEQ _xControl de calidad. |
| 650 | 1 | 4 |
_915436 _aCírculos de calidad. |
| 650 | 1 | 4 |
_926562 _aControl de calidad. |
| 655 | 4 | _aRecurso en línea | |
| 700 | 1 |
_9264856 _aRamos García, Daniel. _eautor |
|
| 700 | 1 |
_9289431 _aUrdiales Ibarra, Miguel. _eautor |
|
| 856 | 4 | 0 | _uhttps://udemproxy.elogim.com/auth-meta/login.php?url=https://catalogo.udem.edu.mx/TESIS_UDEM/33409002090847.pdf |
| 942 |
_2ddc _cTES _n0 |
||
| 991 |
_aC0 _bUN@ |
||
| 991 | _aIND | ||
| 997 |
_aHZ _b00 _c20140722 _lUDM01 _h1021 |
||
| 998 |
_aBATCH _b00 _c20140911 _lUDM01 _h0513 |
||
| 999 |
_c94458 _d94458 |
||