Valadez Turrubiartes, Rene, <br/><br/>
Aumento del Trughput Yield en la línea de producción Elco / 
Rene Valadez Turrubiartes, Miguel Urdiales Ibarra, Daniel Ramos García. 
 - 146 hojas :  ilustraciones, tablas. 1 recurso en línea 
<br/><br/>Tesis (Ing. Industrial y de Sistemas)--UDEM. 
<br/><br/><label>Subjects--Corporate Names: </label><br/>ELCOTEQ--Control de calidad.
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Círculos de calidad.<br/>Control de calidad.
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Recurso en línea
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>040.62  / V136a 2003