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Statistical mechanics of phases, interfaces, and thin films / H. Ted Davis.

Por: Tipo de material: TextoTextoSeries Advances in interfacial engineering seriesEditor: New York : J. Wiley-VCH, c1996Descripción: xvi, 712 páginas : ilustracionesTipo de contenido:
  • texto
Tipo de medio:
  • no mediado
Tipo de soporte:
  • volumen
ISBN:
  • 0471185620
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 530.417 D262s 1996
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